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玉米考種分析系統(tǒng)實粒種子整穗截面分析儀是根據圖像識別原理來實現自動分析的。可用于玉米實粒種子的精確考種、對玉米的籽粒、果穗、截面分析。同時可兼做水稻、小麥、油菜、豆類、花生、芝麻等作物考種分析。
考種分析儀恒美可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型(包括長、寬、長寬比、周長、面積),利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。
千粒重儀可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型(包括長、寬、長寬比、周長、面積),利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。
恒美考種系統(tǒng)可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型(包括長、寬、長寬比、周長、面積),利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。
恒美玉米考種分析系統(tǒng)可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型(包括長、寬、長寬比、周長、面積),利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。
自動考種分析儀及千粒重系統(tǒng)可以測量各種表面光滑的籽粒的數量、千/百粒重與平均粒型(包括長、寬、長寬比、周長、面積),利用圖像ORC 識別技術、圖像定位、空間轉換等技術實現快速識別種子數量及作物性狀指標。